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AFM-IR vs s-SNOM | Duas técnicas complementares com diferentes pontos fortes
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Agora com o novo NanoIR2-s pode escolher a configuração que melhor se adapte às medições que necessita
A tecnologia AFM-IR detecta directamente a luz absorvida pela amostra utilizando a ponta da sonda do AFM para detectar a expansão térmica. Esta expansão térmica depende principalmente do coeficiente de absorção, ks da amostra e é independente de outras propriedades ópticas da ponta e da amostra. Assim sendo, a tecnologia AFM-IR é utilizada para medições onde é necessário um espectro de absorção preciso. Esta tecnologia é ideal para os estudos de material "macio" devido à sua grande expansão térmica.
Por outro lado, a tecnologia s-SNOM detecta a luz dispersa por áreas com dimensões nanométricas situadas directamente por baixo da ponta da sonda do AFM. O campo disperso depende das constantes ópticas complexas, tanto da ponta como da amostra e contém informação abundante acerca dos fenómenos nano-ópticos.
Para realizar este tipo de medições é necessária uma amostra de referência (por exemplo de ouro ou de sílica) para separar as contribuições para a resposta da fonte e da ponta. O s-SNOM funciona melhor com materiais "duros" que interagem fortemente com a luz.
O s-SNOM é uma técnica atractiva para obter imagens nanométricas com contraste nas propriedades ópticas, com diversas aplicações em materiais avançados, dispositivos e interacções luz/matéria fundamentais.
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