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Reflectometria

Intervalo espectral: 200 nm (DUV) a 2,5 µm (IR)
Medição de: espessura, índice de refracção, extinção, etc.
Aplicações: resinas fotoeléctricas, dieléctricas, orgânicas, etc.

ReflectometríaUltrapassando os limites das medições do índice de refracção

Os nossos reflectómetros dispõem de medições de reflectância de feixe individuais mais precisos através dos ajustes em altura e inclinação da amostra. Além disso, a alta condutância do design óptico da luz permite medições repetíveis de n e k, medições sobre superfícies rugosas, bem como medições de espessura de camadas muito finas.

Intervalo espectral de UV a NIR
  • RM 1000    430 nm - 930 nm
  • RM 2000    200 nm - 930 nm
Mapeamento de alta resolução

Os reflectómetros RM 1000 e RM 2000 podem ser equipados opcionalmente com um stage x-y e software de mapeamento. Estão, também, disponíveis lentes objectivas para um tamanho de ponto muito pequeno e câmara de vídeo.

Os reflectómetros espectroscópios RM 1000 e RM 2000 medem a reflectância das amostras planas ou curvas com superfície lisa ou rugosa.

Além disso, utilizando o SENTECH FTPadv Expert é possível obter a espessura, o coeficiente de extinção e o índice de refracção de películas individuais ou multi-camadas. As películas individuais entre 5 nm e 50 micras de espessura, multi-camadas e substratos podem ser analisados no intervalo espectral UV-VIS-NIR.

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