Elipsometria
O facto desta tecnologia medir as alterações no estado de polarização em vez da intensidade absoluta da luz, faz com que a elipsometria seja uma técnica altamente sensível, mesmo em camadas finas de apenas alguns angstroms (Å).
A elipsometria é uma técnica de análise óptica. Esta tecnologia é baseada na alteração do estado de polarização da luz que incide no material standard. Ao tratar-se de uma técnica óptica, esta análise não é destrutiva e pode ser utilizada para determinar a espessura das camadas finas, índice de refracção, coeficiente de extinção, etc.
Produtos de esta categoria
Elipsómetros espectroscópicos
Intervalo espectral: 190 nm (DUV) até 25 µm (IR)
Medições de: espessura, índice de refracção, extinção, etc.
Aplicações: revestimentos ópticos, células solares, etc.
Elipsómetros laser
Ferramenta de referência de alta precisão para o índice de refracção e espessura da película.
Medição de: espessura, índice de refracção, extinção, etc.
Aplicações: revestimentos AR para PV, películas individuais, etc.
Reflectometria
Intervalo espectral: 200 nm (DUV) a 2,5 µm (IR)
Medição de: espessura, índice de refracção, extinção, etc.
Aplicações: resinas fotoeléctricas, dieléctricas, orgânicas, etc.
